Equipamiento relevante del centro

• Microscopios Electrónicos: SEM-FEG HITACHI S-4800; SEM-FEG JEOL JSM 6500F equipado con EBSD; TEM JEOL 2010.
• Difractómetros de Rayos-X: Siemens D5000 y Bruker AXS D8.
• XPS (X-ray photoelectron spectrometer) y Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) para análisis y caracterización de superficies.
• Espectrómetros de Infrarrojo por Transformada de Fourier y ATR, Absorción atómica y Fluorescencia de Rayos-X.
• Sistema de Ultra-micro indentación.
• Laboratorio de Ensayos Mecánicos (máquinas de tensión, compresión, torsión, fatiga y resistencia).
• Dilatómetros de última generación.
• DTA, TGA y DSC para análisis térmico gravimétricos.
• Sistemas electroquímicos de corrosión (LEIS, SECM y sonda Kelvin).

Otro equipamiento